由于傳統的射線類膜厚檢測儀檢測精度低、易偏移、難于校準等缺點給實際的工藝產品質量控制造成了很大的影響，SIMV涂層(膜厚)在線測厚儀，采用納米光學干涉的方式，可同時對20層不用涂層、薄膜進行同時測量，同時精度高達1nm，完美的解決了傳統射線類在線測厚儀有輻射、偏移周期長、檢測精度低、不能檢測涂層厚度的缺點。賽默斐視涂層厚度在線測厚儀檢測精度高，同時能夠實時在線自動校準，有效的保證了在線測厚儀的檢測精度。